търсене на книга
книги
Направете дарение
Впиши се
Впиши се
оторизираните потребители имат достъп до:
лични препоръки
Телеграм бот
хронология на изтеглянията
изпрати до Email или Kindle
управление на колекцията
запазване в любими
Лично
Заявки за книги
Изучаване
Z-Recommend
Списъци с книги
Най-популярни
Категории
Участие
Направете дарение
Качвания
Litera Library
Дарете хартиени книги
Добавяне на хартиени книги
Search paper books
Моят LITERA Point
Търсене на термини
Main
Търсене на термини
search
1
Scanning Transmission Electron Microscopy of Nanomaterials: Basics of Imaging Analysis
Imperial College Press
Nobuo Tanaka
electron
microscopy
scanning
transmission
6in
9in
b1683
imaging
specimen
aberration
scattering
function
probe
figure
wave
lens
electrons
equation
intensity
atomic
diffraction
exp
method
contrast
adf
atoms
detector
tanaka
incident
plane
angle
shows
crystal
fourier
ultramicroscopy
haadf
eels
specimens
shown
phys
scem
inelastic
calculation
column
columns
lattice
objective
magnetic
spherical
atom
Година:
2014
Език:
english
Файл:
PDF, 34.73 MB
Вашите тагове:
0
/
0
english, 2014
1
Следвайте
тази връзка
или потърсете бот „@BotFather“ в Telegram
2
Изпратете команда /newbot
3
Въведете име за вашия бот
4
Въведете потребителско име за бота
5
Копирайте последното съобщение от BotFather и го поставете тук
×
×